SUS316奧氏體不銹鋼離子輻照損傷中的溫度效應研究
學院研究部黃專家采用7MeV的Xe26+和1 MeV的Xe20+在室溫和600℃下分別對SUS316SS塊體和TEM試樣進行了輻照實驗.
利用納米壓痕儀測試材料輻照損傷前后的顯微硬度,利用TEM觀察輻照損傷前后的微觀結構演變,并將室溫和600℃的實驗結果進行了比對.結果表明,室溫離子輻照造成SUS316SS中形成大量尺寸在3~8 nm之間的位錯環缺陷,它們會阻礙材料內位錯線的自由移動,進而導致材料的硬化.在600℃輻照下,SUS316SS內形成了尺寸介于4~12 nm之間的溶質原子團簇缺陷.盡管其尺寸較室溫輻照下形成的位錯環有輕微的增大,但是其體積密度較前者顯著地降低,輻照硬化現象發生了明顯的回復,材料輻照損傷行為存在溫度效應.
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